高纯钌是一种重要的金属材料，广泛应用于电子、航空、航天等领域。高纯钌的杂质元素含量对其性能和应用有着重要的影响。因此，准确测定高纯钌中杂质元素含量是非常必要的。

本标准采用辉光放电质谱法进行高纯钌中杂质元素含量的测定。具体操作步骤如下：

1. 样品的制备

将高纯钌样品加入到石英坩埚中，加入适量的氧化铝和氧化镁，混合均匀后加入氧化铁和氧化钙，再次混合均匀。将石英坩埚放入电炉中，在氮气气氛下加热至1200℃，保温2小时，然后冷却至室温。将坩埚中的样品粉末取出，研磨成细粉末备用。

2. 样品的分析

将样品粉末加入到辉光放电质谱仪中，进行分析。在分析过程中，需要注意以下几点：

（1）仪器的预处理：在进行分析前，需要对仪器进行预处理，包括清洗、干燥等步骤。

（2）样品的处理：将样品粉末加入到仪器中，进行处理。在处理过程中，需要注意样品的数量和均匀性。

（3）分析条件的设置：根据样品的特点和要求，设置合适的分析条件，包括电压、电流、气体流量等。

（4）数据的处理：对分析得到的数据进行处理，包括峰面积的计算、杂质元素含量的计算等。

3. 结果的计算

根据分析得到的数据，计算出高纯钌中杂质元素的含量。计算公式如下：

杂质元素含量（μg/g）=（样品中杂质元素峰面积/内标元素峰面积）×内标元素含量×稀释倍数

4. 结果的表达

将测定得到的杂质元素含量，按照规定的格式进行表达和报告。

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