YD/T 1250-2003
接入网设备测试方法---基于ATM的无源光网络(APON)
发布时间:2003-01-22 实施时间:2003-01-22


一、范围
本标准适用于基于ATM的无源光网络(APON)接入网设备的测试。

二、引用标准
下列标准中的条款通过本标准的引用成为本标准的条款。凡是注日期的引用标准,其后所有的修改单(不包括勘误单)或修订版均不适用于本标准,但是,对于注日期的引用标准的最新版本适用于本标准。
GB/T 2423.1-2008 环境试验 第1部分:通用试验方法
GB/T 2423.2-2008 环境试验 第2部分:试验B:高温试验方法
GB/T 2423.3-2006 环境试验 第3部分:试验Ca:恒湿热试验方法
GB/T 2423.4-2008 环境试验 第4部分:试验Db:低温试验方法
GB/T 2423.5-2006 环境试验 第5部分:试验Ea和Eb:跌落试验方法

三、测试环境
1.测试环境应符合GB/T 2423.1-2008、GB/T 2423.2-2008、GB/T 2423.3-2006、GB/T 2423.4-2008、GB/T 2423.5-2006等相关标准的要求。
2.测试环境应包括以下内容:
(1)温度:-10℃~+55℃;
(2)相对湿度:10%~90%;
(3)气压:86kPa~106kPa。

四、测试内容
1.性能测试
(1)传输性能测试:包括带宽、时延、抖动等指标的测试;
(2)光功率测试:包括发送端和接收端的光功率测试;
(3)误码率测试:包括发送端和接收端的误码率测试;
(4)光模块测试:包括光模块的发送和接收性能测试。
2.可靠性测试
(1)温度循环测试:在-10℃~+55℃的温度范围内进行10次循环;
(2)湿热循环测试:在10%~90%的相对湿度范围内进行10次循环;
(3)跌落测试:进行10次跌落测试,每次跌落高度为1.5m。

五、测试方法
1.性能测试方法
(1)传输性能测试方法:使用测试仪器对接入网设备进行测试,记录测试结果;
(2)光功率测试方法:使用光功率计对发送端和接收端的光功率进行测试,记录测试结果;
(3)误码率测试方法:使用误码率测试仪对发送端和接收端的误码率进行测试,记录测试结果;
(4)光模块测试方法:使用测试仪器对光模块的发送和接收性能进行测试,记录测试结果。
2.可靠性测试方法
(1)温度循环测试方法:将接入网设备放置在-10℃的环境中30min,然后将其放置在+55℃的环境中30min,循环10次;
(2)湿热循环测试方法:将接入网设备放置在10%的相对湿度环境中30min,然后将其放置在90%的相对湿度环境中30min,循环10次;
(3)跌落测试方法:将接入网设备从1.5m高度自由落下,进行10次测试,记录测试结果。

六、测试结果的评估
1.性能测试结果应符合相关标准的要求;
2.可靠性测试结果应符合以下要求:
(1)温度循环测试:接入网设备应能正常工作;
(2)湿热循环测试:接入网设备应能正常工作;
(3)跌落测试:接入网设备应能正常工作。

相关标准
GB/T 2423.1-2008 环境试验 第1部分:通用试验方法
GB/T 2423.2-2008 环境试验 第2部分:试验B:高温试验方法
GB/T 2423.3-2006 环境试验 第3部分:试验Ca:恒湿热试验方法
GB/T 2423.4-2008 环境试验 第4部分:试验Db:低温试验方法
GB/T 2423.5-2006 环境试验 第5部分:试验Ea和Eb:跌落试验方法