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一、范围
本标准适用于通信电缆聚四氟乙烯绝缘射频同轴电缆藕芯绝缘编织浸锡外导体型。
二、引用标准
下列标准中的条款通过本标准的引用成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件，其后所有的修改单（不包括勘误单）或修订版均不适用于本标准，但是，对于注日期的引用文件的最新版本适用于本标准。
GB/T 2951.1-2010 绝缘和护套材料试验方法 第1部分：一般试验方法
GB/T 2951.21-2017 绝缘和护套材料试验方法 第21部分：电缆材料热老化试验方法
GB/T 2951.22-2017 绝缘和护套材料试验方法 第22部分：电缆材料热稳定性试验方法
GB/T 2951.23-2017 绝缘和护套材料试验方法 第23部分：电缆材料热变形试验方法
GB/T 2951.24-2017 绝缘和护套材料试验方法 第24部分：电缆材料热老化后物理性能试验方法
GB/T 2951.25-2017 绝缘和护套材料试验方法 第25部分：电缆材料热老化后机械性能试验方法
GB/T 2951.26-2017 绝缘和护套材料试验方法 第26部分：电缆材料热老化后电气性能试验方法
GB/T 2951.27-2017 绝缘和护套材料试验方法 第27部分：电缆材料热老化后化学性能试验方法
GB/T 2951.31-2017 绝缘和护套材料试验方法 第31部分：电缆材料低温弯曲试验方法
GB/T 2951.32-2017 绝缘和护套材料试验方法 第32部分：电缆材料低温冲击试验方法
GB/T 2951.33-2017 绝缘和护套材料试验方法 第33部分：电缆材料低温弯曲后物理性能试验方法
GB/T 2951.34-2017 绝缘和护套材料试验方法 第34部分：电缆材料低温弯曲后机械性能试验方法
GB/T 2951.35-2017 绝缘和护套材料试验方法 第35部分：电缆材料低温弯曲后电气性能试验方法
GB/T 2951.36-2017 绝缘和护套材料试验方法 第36部分：电缆材料低温弯曲后化学性能试验方法
GB/T 2951.41-2017 绝缘和护套材料试验方法 第41部分：电缆材料燃烧试验方法
GB/T 2951.42-2017 绝缘和护套材料试验方法 第42部分：电缆材料燃烧后物理性能试验方法
GB/T 2951.43-2017 绝缘和护套材料试验方法 第43部分：电缆材料燃烧后机械性能试验方法
GB/T 2951.44-2017 绝缘和护套材料试验方法 第44部分：电缆材料燃烧后电气性能试验方法
GB/T 2951.45-2017 绝缘和护套材料试验方法 第45部分：电缆材料燃烧后化学性能试验方法
GB/T 3048.2-2019 电子元器件试验方法 第2部分：电子元器件的可靠性试验 第2-1节：通用试验方法
GB/T 3048.3-2019 电子元器件试验方法 第3部分：电子元器件的可靠性试验 第3-1节：可靠性试验的一般规定
GB/T 3048.4-2019 电子元器件试验方法 第4部分：电子元器件的可靠性试验 第4-1节：可靠性试验的一般规定
GB/T 3048.5-2019 电子元器件试验方法 第5部分：电子元器件的可靠性试验 第5-1节：可靠性试验的一般规定
GB/T 3048.6-2019 电子元器件试验方法 第6部分：电子元器件的可靠性试验 第6-1节：可靠性试验的一般规定
GB/T 3048.7-2019 电子元器件试验方法 第7部分：电子元器件的可靠性试验 第7-1节：可靠性试验的一般规定
GB/T 3048.8-2019 电子元器件试验方法 第8部分：电子元器件的可靠性试验 第8-1节：可靠性试验的一般规定
GB/T 3048.9-2019 电子元器件试验方法 第9部分：电子元器件的可靠性试验 第9-1节：可靠性试验的一般规定
GB/T 3048.10-2019 电子元器件试验方法 第10部分：电子元器件的可靠性试验 第10-1节：可靠性试验的一般规定
GB/T 3048.11-2019 电子元器件试验方法 第11部分：电子元器件的可靠性试验 第11-1节：可靠性试验的一般规定
GB/T 3048.12-2019 电子元器件试验方法 第12部分：电子元器件的可靠性试验 第12-1节：可靠性试验的一般规定
GB/T 3048.13-2019 电子元器件试验方法 第13部分：电子元器件的可靠性试验 第13-1节：可靠性试验的一般规定
GB/T 3048.14-2019 电子元器件试验方法 第14部分：电子元器件的可靠性试验 第14-1节：可靠性试验的一般规定
GB/T 3048.15-2019 电子元器件试验方法 第15部分：电子元器件的可靠性试验 第15-1节：可靠性试验的一般规定
GB/T 3048.16-2019 电子元器件试验方法 第16部分：电子元器件的可靠性试验 第16-1节：可靠性试验的一般规定
GB/T 3048.17-2019 电子元器件试验方法 第17部分：电子元器件的可靠性试验 第17-1节：可靠性试验的一般规定
GB/T 3048.18-2019 电子元器件试验方法 第18部分：电子元器件的可靠性试验 第18-1节：可靠性试验的一般规定
GB/T 3048.19-2019 电子元器件试验方法 第19部分：电子元器件的可靠性试验 第19-1节：可靠性试验的一般规定
GB/T 3048.20-2019 电子元器件试验方法 第20部分：电子元器件的可靠性试验 第20-1节：可靠性试验的一般规定
GB/T 3048.21-2019 电子元器件试验方法 第21部分：电子元器件的可靠性试验 第21-1节：可靠性试验的一般规定
GB/T 3048.22-2019 电子元器件试验方法 第22部分：电子元器件的可靠性试验 第22-1节：可靠性试验的一般规定
GB/T 3048.23-2019 电子元器件试验方法 第23部分：电子元器件的可靠性试验 第23-1节：可靠性试验的一般规定
GB/T 3048.24-2019 电子元器件试验方法 第24部分：电子元器件的可靠性试验 第24-1节：可靠性试验的一般规定
GB/T 3048.25-2019 电子元器件试验方法 第25部分：电子元器件的可靠性试验 第25-1节：可靠性试验的一般规定
GB/T 3048.26-2019 电子元器件试验方法 第26部分：电子元器件的可靠性试验 第26-1节：可靠性试验的一般规定
GB/T 3048.27-2019 电子元器件试验方法 第27部分：电子元器件的可靠性试验 第27-1节：可靠性试验的一般规定
GB/T 3048.28-2019 电子元器件试验方法 第28部分：电子元器件的可靠性试验 第28-1节：可靠性试验的一般规定
GB/T 3048.29-2019 电子元器件试验方法 第29部分：电子元器件的可靠性试验 第29-1节：可靠性试验的一般规定
GB/T 3048.30-2019 电子元器件试验方法 第30部分：电子元器件的可靠性试验 第30-1节：可靠性试验的一般规定
GB/T 3048.31-2019 电子元器件试验方法 第31部分：电子元器件的可靠性试验 第31-1节：可靠性试验的一般规定
GB/T 3048.32-2019 电子元器件试验方法 第32部分：电子元器件的可靠性试验 第32-1节：可靠性试验的一般规定
GB/T 3048.33-2019 电子元器件试验方法 第33部分：电子元器件的可靠性试验 第33-1节：可靠性试验的一般规定
GB/T 3048.34-2019 电子元器件试验方法 第34部分：电子元器件的可靠性试验 第34-1节：可靠性试验的一般规定
GB/T 3048.35-2019 电子元器件试验方法 第35部分：电子元器件的可靠性试验 第35-1节：可靠性试验的一般规定
GB/T 3048.36-2019 电子元器件试验方法 第36部分：电子元器件的可靠性试验 第36-1节：可靠性试验的一般规定
GB/T 3048.37-2019 电子元器件试验方法 第37部分：电子元器件的可靠性试验 第37-1节：可靠性试验的一般规定
GB/T 3048.38-2019 电子元器件试验方法 第38部分：电子元器件的可靠性试验 第38-1节：可靠性试验的一般规定
GB/T 3048.39-2019 电子元器件试验方法 第39部分：电子元器件的可靠性试验 第39-1节：可靠性试验的一般规定
GB/T 3048.40-2019 电子元器件试验方法 第40部分：电子元器件的可靠性试验 第40-1节：可靠性试验的一般规定
GB/T 3048.41-2019 电子元器件试验方法 第41部分：电子元器件的可靠性试验 第41-1节：可靠性试验的一般规定
GB/T 3048.42-2019 电子元器件试验方法 第42部分：电子元器件的可靠性试验 第42-1节：可靠性试验的一般规定
GB/T 3048.43-2019 电子元器件试验方法 第43部分：电子元器件的可靠性试验 第43-1节：可靠性试验的一般规定
GB/T 3048.44-2019 电子元器件试验方法 第44部分：电子元器件的可靠性试验 第44-1节：可靠性试验的一般规定
GB/T 3048.45-2019 电子元器件试验方法 第45部分：电子元器件的可靠性试验 第45-1节：可靠性试验的一般规定
GB/T 3048.46-2019 电子元器件试验方法 第46部分：电子元器件的可靠性试验 第46-1节：可靠性试验的一般规定
GB/T 3048.47-2019 电子元器件试验方法 第47部分：电子元器件的可靠性试验 第47-1节：可靠性试验的一般规定
GB/T 3048.48-2019 电子元器件试验方法 第48部分：电子元器件的可靠性试验 第48-1节：可靠性试验的一般规定
GB/T 3048.49-2019 电子元器件试验方法 第49部分：电子元器件的可靠性试验 第49-1节：