YD/T 3944-2021
人工智能芯片基准测试评估方法
发布时间:2021-08-21 实施时间:2021-11-01
人工智能技术的快速发展,推动了人工智能芯片的广泛应用。人工智能芯片的性能指标对于其应用效果至关重要。为了保证人工智能芯片的性能指标的准确性和可比性,需要制定一套基准测试评估方法。
本标准主要包括以下内容:
1.测试流程
测试流程包括测试准备、测试执行和测试结束三个阶段。测试准备阶段包括测试环境的搭建、测试数据的准备和测试指标的确定等内容。测试执行阶段包括测试数据的输入、测试指标的测量和测试结果的记录等内容。测试结束阶段包括测试结果的分析和测试报告的编写等内容。
2.测试环境
测试环境包括硬件环境和软件环境两个方面。硬件环境包括测试设备、测试平台和测试数据存储设备等内容。软件环境包括操作系统、编译器、库文件和测试工具等内容。
3.测试数据
测试数据包括训练数据和测试数据两个方面。训练数据用于训练人工智能模型,测试数据用于测试人工智能芯片的性能指标。测试数据应具有代表性和多样性,能够覆盖不同的应用场景和数据类型。
4.测试指标
测试指标包括性能指标和功耗指标两个方面。性能指标包括计算速度、内存带宽、存储带宽和精度等内容。功耗指标包括静态功耗和动态功耗两个方面。
5.测试报告
测试报告应包括测试环境、测试数据、测试指标和测试结果等内容。测试结果应包括性能指标和功耗指标两个方面。测试报告应具有可读性和可比性,能够为人工智能芯片的性能评估和比较提供参考依据。
相关标准
GB/T 29322-2012 人工智能术语
GB/T 29323-2012 人工智能分类与编码
GB/T 29324-2012 人工智能应用领域分类与编码
GB/T 29325-2012 人工智能技术标准化指南
GB/T 29326-2012 人工智能技术标准化工作规范