首饰是人们日常生活中常见的装饰品，其质量的好坏直接关系到人们的健康和安全。而首饰的质量检验中，覆盖层厚度是一个重要的指标。本标准规定了一种测定首饰金、银覆盖层厚度的方法，即X射线荧光光谱法。

该方法的原理是：用X射线照射样品，样品中的金、银等元素会发射出特定的荧光线，荧光线的强度与元素的含量成正比。通过测量荧光线的强度，可以计算出样品中金、银等元素的含量，从而得到覆盖层的厚度。

具体操作步骤如下：

1. 准备样品。将待测样品放置在样品台上，使其与X射线管的光束垂直。

2. 调整仪器。根据样品的材质和厚度，选择合适的X射线管电压和电流，并调整荧光光谱仪的参数，使其能够检测到样品中金、银等元素的荧光线。

3. 测量荧光线强度。用荧光光谱仪测量样品中金、银等元素的荧光线强度，并记录下来。

4. 计算覆盖层厚度。根据荧光线强度和样品的密度等参数，计算出样品中金、银等元素的含量，从而得到覆盖层的厚度。

需要注意的是，该方法只适用于金、银覆盖层的测定，对于其他材质的覆盖层不适用。此外，该方法需要专业的仪器和操作技能，不建议在非专业人员的指导下进行。

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