首饰是人们日常生活中常见的装饰品，其中金饰品因其高档、高贵的特性备受人们喜爱。然而，市场上存在一些不法商家会采用一些不正当的手段来降低成本，如使用厚度不足的金覆盖层来冒充纯金饰品。因此，对于金覆盖层的厚度进行测定就显得尤为重要。

QB/T 1133-2017标准规定了一种使用光谱法测定金覆盖层厚度的方法。该方法的原理是通过测量金属薄膜的反射率和透射率，计算出金属薄膜的厚度。该方法具有测量精度高、操作简便等优点。

该标准规定了测量所需的仪器设备、样品制备、测量步骤、数据处理等内容。其中，样品制备要求样品表面应平整、光洁、无氧化物等，以保证测量结果的准确性。测量步骤包括样品的放置、光谱仪的校准、测量数据的采集等。数据处理则包括反射率和透射率的计算、金属薄膜厚度的计算等。

该标准适用于金、银、铜等基材上的金覆盖层厚度测定。该方法适用于金属薄膜厚度在0.01μm~10μm范围内的测量。

相关标准
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