一、范围
本标准适用于使用光谱法测定首饰银覆盖层厚度的方法和要求。

二、引用标准
GB/T 1804 一般技术要求的表示方法
GB/T 2828.1 采样检验程序 第1部分：按比例抽样检验程序（ISO 2859-1：1999，MOD）
GB/T 2829 采样检验程序和表单的制定和使用
GB/T 8170 数值舍入规则及其在计算中的应用
GB/T 9966.1 首饰 品质标志 第1部分：金、银、铂、钯及其合金

三、术语和定义
3.1 银覆盖层
指在基材表面通过电镀、化学镀等方法形成的银层。

3.2 银覆盖层厚度
指银覆盖层在基材表面的厚度。

3.3 光谱法
指通过测量银覆盖层表面反射的光谱，计算出银覆盖层厚度的方法。

四、仪器设备
4.1 光谱仪：分辨率不小于0.1nm，波长范围为380nm~780nm。
4.2 光源：白炽灯或氙灯。
4.3 校准片：厚度为10μm、20μm、30μm、40μm、50μm的银膜校准片各一张。

五、试样制备
5.1 试样应为平整、光洁、无氧化皮的银覆盖层。
5.2 试样应随机选取，每批次不少于3个试样。
5.3 试样应在室温下放置30min以上，使其达到稳定状态。

六、操作步骤
6.1 校准
6.1.1 将校准片放置在光谱仪上，调整光谱仪至最佳状态。
6.1.2 依次测量校准片，记录其反射光谱。
6.1.3 根据反射光谱计算出校准片的厚度与反射率的关系曲线。
6.1.4 根据关系曲线，计算出试样的反射率。
6.2 测量
6.2.1 将试样放置在光谱仪上，调整光谱仪至最佳状态。
6.2.2 测量试样的反射光谱。
6.2.3 根据关系曲线，计算出试样的厚度。

七、结果表示
7.1 测量结果应四舍五入至0.1μm。
7.2 测量结果应按照GB/T 1804的要求表示。

八、检验规则
8.1 检验方法
采用GB/T 2828.1的Ⅱ类抽样方案进行检验。
8.2 检验结果判定
8.2.1 单个试样的银覆盖层厚度应符合GB/T 9966.1的要求。
8.2.2 批次合格率应符合GB/T 9966.1的要求。

九、包装、标志、运输和贮存
按照GB/T 9966.1的要求进行包装、标志、运输和贮存。

相关标准
GB/T 1804 一般技术要求的表示方法
GB/T 2828.1 采样检验程序 第1部分：按比例抽样检验程序（ISO 2859-1：1999，MOD）
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GB/T 8170 数值舍入规则及其在计算中的应用
GB/T 9966.1 首饰 品质标志 第1部分：金、银、铂、钯及其合金