NaY分子筛是一种广泛应用于催化剂、吸附剂、分离剂等领域的重要材料。晶胞参数是NaY分子筛的重要物理性质之一，对于其应用性能具有重要影响。因此，准确测定NaY分子筛晶胞参数具有重要意义。

本标准采用X射线衍射法测定NaY分子筛晶胞参数。具体操作步骤如下：

1. 样品制备：将NaY分子筛样品研磨成粉末，并在干燥器中干燥至恒定质量。

2. X射线衍射测定：将样品放置在X射线衍射仪中，进行扫描测量。扫描范围为2θ=5°~50°，步长为0.02°。测量条件为：管电压40kV，管电流40mA，铜靶，滤光片为Ni。

3. 数据处理：根据测量结果，利用布拉格方程计算晶胞参数。

本标准要求测定结果的相对误差不得大于0.5%。

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