NaY分子筛是一种广泛应用于催化剂、吸附剂、分离剂等领域的重要材料。其性能与结晶度密切相关，因此准确测定NaY分子筛的结晶度对于保证其应用性能具有重要意义。

本标准采用X射线衍射法测定NaY分子筛的结晶度。具体操作步骤如下：

1. 将样品粉末均匀地铺在X射线衍射仪的样品台上。

2. 以Cu Kα射线为光源，进行扫描，扫描范围为2θ=5°~50°。

3. 根据扫描结果，计算出NaY分子筛的结晶度。

计算公式为：

K = (Ihkl / Iam) × 100%

其中，K为结晶度，Ihkl为NaY分子筛的(111)晶面峰强度，Iam为非晶态背景峰强度。

本标准要求，样品的粒径应小于10μm，且应经过干燥处理。同时，为了保证测定结果的准确性，还应进行多次测定，取平均值作为最终结果。

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