YB/T 4590-2017
硅材料用高纯石墨制品中杂质含量的测定 电感耦合等离子体发射光谱法
发布时间:2017-04-12 实施时间:2017-10-01


高纯石墨制品是一种重要的材料,广泛应用于电子、半导体、光电、化工等领域。其中,杂质含量是影响高纯石墨制品质量的重要因素之一。因此,准确测定高纯石墨制品中杂质含量对于保证其质量具有重要意义。

本标准采用电感耦合等离子体发射光谱法测定高纯石墨制品中杂质含量。该方法具有灵敏度高、准确度高、重现性好等优点,适用于测定高纯石墨制品中多种元素的含量。

本标准规定了样品的制备方法、仪器设备、分析条件、结果计算等内容。其中,样品的制备方法包括样品的研磨、筛分、干燥等步骤。仪器设备包括电感耦合等离子体发射光谱仪、样品进样系统、氩气等。分析条件包括氩气流量、电源功率、分析线等。结果计算包括各元素的相对含量、绝对含量等。

本标准适用于硅材料用高纯石墨制品中杂质含量的测定。该方法适用于多种元素的含量测定,具有较高的准确度和重现性。

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