脉冲X射线激发闪烁体荧光衰减时间测试方法是一种用于测量闪烁体荧光衰减时间的方法。该方法适用于各种类型的闪烁体，包括无机晶体、有机晶体和塑料闪烁体等。

测试前，需要对闪烁体进行预处理。首先，将闪烁体切割成适当大小的样品，并在样品表面涂上黑色吸光剂。然后，将样品放置在真空中，以去除表面吸附的气体和水分。最后，将样品放置在恒温恒湿的环境中，以达到稳定状态。

测试时，需要使用脉冲X射线激发闪烁体，并测量其荧光衰减时间。具体步骤如下：

1. 将样品放置在测试装置中，并对其进行定位和调整，以确保样品与探测器之间的距离和角度符合要求。

2. 使用脉冲X射线激发样品，并记录下荧光信号的时间和强度。

3. 根据记录的荧光信号数据，计算出荧光衰减时间。

4. 重复以上步骤，直至得到稳定的荧光衰减时间值。

本标准还规定了测试装置的要求、测试条件的要求、数据处理方法等内容。

相关标准
GB/T 18871-2002 闪烁体荧光衰减时间的测量方法
GB/T 18872-2002 闪烁体荧光寿命的测量方法
GB/T 18873-2002 闪烁体荧光光谱的测量方法
GB/T 18874-2002 闪烁体荧光效率的测量方法
GB/T 18875-2002 闪烁体荧光强度的测量方法