SN/T 2004.4-2006
电子电气产品中铅、镉、铬、汞的测定 第4部分:电感耦合等离子体原子发射光谱法
发布时间:2006-04-25 实施时间:2006-11-15


电子电气产品中的铅、镉、铬、汞等有害物质对人体健康和环境造成了严重的危害,因此对其含量的测定十分重要。本标准采用电感耦合等离子体原子发射光谱法(ICP-AES)进行测定,该方法具有快速、准确、灵敏度高等优点。

本标准适用于电子电气产品中铅、镉、铬、汞的测定,包括电子电气产品及其零部件、材料和包装材料等。本标准不适用于含有铅、镉、铬、汞的化学品和药品。

本标准的测定范围为:铅、镉、铬、汞的质量分数在0.000 5%~0.1%之间。

本标准的测定方法如下:

1.样品的制备

将样品粉碎并混匀,取约0.5g样品,加入10mL浓硝酸和2mL浓氢氟酸,加热至完全溶解,转移至100mL容量瓶中,用水稀释至刻度线。

2.仪器的操作

将样品溶液注入ICP-AES仪器中,设置相应的工作条件,进行测定。

3.结果的计算

根据ICP-AES仪器的测定结果,计算出样品中铅、镉、铬、汞的质量分数。

本标准还规定了仪器的性能要求、质量控制、实验室条件等内容。

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