高纯石墨是一种重要的工业原材料，广泛应用于电力、冶金、化工、航空、航天等领域。其中硫是高纯石墨中的一种重要杂质，其含量对石墨的性能和质量有着重要的影响。因此，准确测定高纯石墨中硫的含量是非常必要的。

本标准采用X射线荧光光谱法进行测定。该方法具有快速、准确、无需样品前处理等优点，适用于高纯石墨中硫含量在0.001%~0.5%范围内的测定。

具体操作步骤如下：

1. 样品的制备

将高纯石墨样品研磨成粉末，并通过筛网筛选出粒径小于0.15mm的颗粒。将筛选后的样品放入X射线荧光光谱仪的样品杯中。

2. 仪器的校准

使用标准样品进行仪器的校准。校准时应注意校准曲线的线性范围和灵敏度。

3. 测定样品

将样品杯放入X射线荧光光谱仪中，进行测定。测定时应注意样品的吸收和散射效应，以及仪器的背景噪声。

4. 计算结果

根据测定结果和校准曲线，计算出样品中硫的含量。

本标准的实施可以有效保证高纯石墨中硫含量的准确测定，为高纯石墨的生产和应用提供了可靠的技术支持。

相关标准
GB/T 223.68-1997 金属及其化合物中硫的测定 火焰原子吸收光谱法
GB/T 223.69-1997 金属及其化合物中硫的测定 红外吸收法
GB/T 223.70-1997 金属及其化合物中硫的测定 碘量法
GB/T 223.71-1997 金属及其化合物中硫的测定 电化学滴定法
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