SN/T 1650-2005
金属硅中铁、铝、钙、镁、锰、锌、铜、钛、铬、镍、钒含量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法
发布时间:2005-09-30 实施时间:2006-05-01
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金属硅是一种重要的冶金原料,其中含有多种金属元素。为了保证金属硅的质量,需要对其中的元素含量进行测定。本标准规定了一种测定金属硅中铁、铝、钙、镁、锰、锌、铜、钛、铬、镍、钒含量的方法,即电感耦合等离子体原子发射光谱法。
该方法的原理是将金属硅样品放入电感耦合等离子体中,使其被激发成原子态,然后通过光谱仪测定其发射光谱,从而确定其中各元素的含量。该方法具有灵敏度高、准确度高、分析速度快等优点,被广泛应用于金属硅中各元素含量的测定。
本标准规定了样品的制备方法、仪器设备的要求、分析条件的设定、测定方法的步骤等内容。其中,样品的制备方法包括样品的研磨、溶解等步骤;仪器设备的要求包括电感耦合等离子体发射光谱仪、氩气等离子体源、样品进样系统等;分析条件的设定包括气体流量、电源功率、分析线的选择等;测定方法的步骤包括校准曲线的绘制、样品进样、测定等。
本标准适用于金属硅中铁、铝、钙、镁、锰、锌、铜、钛、铬、镍、钒含量的测定,适用于金属硅生产、质量检验等领域。
相关标准:
GB/T 223.68-1997 金属及其化合物中铁的测定 邻苯二酚分光光度法
GB/T 223.69-1997 金属及其化合物中铝的测定 邻苯二酚分光光度法
GB/T 223.71-1997 金属及其化合物中钙的测定 火焰原子吸收光谱法
GB/T 223.72-1997 金属及其化合物中镁的测定 火焰原子吸收光谱法
GB/T 223.73-1997 金属及其化合物中锰的测定 邻苯二酚分光光度法