电子元器件是现代电子技术的基础，其可靠性是保证电子产品正常运行的重要因素。为了评估电子元器件在使用过程中的可靠性，需要进行可靠性试验。LY/T 1079-2015 电子元器件可靠性试验方法是为了规范电子元器件可靠性试验而制定的标准。

该标准主要包括以下内容：

1. 环境试验：包括高温、低温、温度循环、湿热、盐雾等试验，用于评估电子元器件在不同环境条件下的可靠性。

2. 物理试验：包括机械冲击、振动、跌落等试验，用于评估电子元器件在运输、安装、使用过程中的可靠性。

3. 电性能试验：包括电压、电流、功率、电阻等试验，用于评估电子元器件在电性能方面的可靠性。

4. 可靠性试验：包括寿命试验、可靠性增量试验、可靠性保证试验等试验，用于评估电子元器件在长期使用过程中的可靠性。

该标准规定了试验方法、试验条件、试验过程、试验结果的评估等方面的要求，确保试验结果的准确性和可靠性。同时，该标准还规定了试验报告的编写要求，包括试验目的、试验方法、试验结果等内容，方便用户对试验结果进行评估和比较。

LY/T 1079-2015 电子元器件可靠性试验方法适用于各种类型的电子元器件，包括集成电路、二极管、晶体管、电容器、电阻器等。该标准适用于电子元器件的可靠性试验，也可作为电子元器件的质量控制和评估的依据。

相关标准
GB/T 2423.1-2008 环境试验 第1部分：通用试验方法
GB/T 2423.2-2008 环境试验 第2部分：试验B：高温试验方法
GB/T 2423.3-2006 环境试验 第3部分：试验Ca：恒湿热试验方法
GB/T 2423.10-2008 环境试验 第10部分：试验Fh：盐雾试验方法
GB/T 2423.55-2006 环境试验 第55部分：试验Ea和Eh：跌落试验方法