JB/T 2542-1991
光学计量仪器用光学机械测微装置通用技术条件
发布时间:1991-07-16 实施时间:1992-07-01


光学机械测微装置是一种用于测量物体表面形状和位置的光学仪器。它通常由显微镜、测微头、测微螺旋、测微盘等部分组成。光学机械测微装置广泛应用于机械加工、精密制造、光学加工、电子加工等领域。

本标准适用于光学计量仪器用光学机械测微装置的设计、制造、检验和使用。其中,光学计量仪器包括投影仪、显微镜、测量显微镜、光学平台等。

本标准规定了光学机械测微装置的基本要求、技术指标、试验方法、检验规则和标志、包装、运输和贮存等。其中,基本要求包括测微头的结构、测微螺旋的结构、测微盘的结构等;技术指标包括测微头的分辨力、测微螺旋的分度值、测微盘的分度值等;试验方法包括测微头的分辨力试验、测微螺旋的分度值试验、测微盘的分度值试验等;检验规则和标志包括光学机械测微装置的检验方法、检验结果的判定、标志等;包装、运输和贮存包括光学机械测微装置的包装方式、运输方式、贮存条件等。

本标准的实施可以提高光学机械测微装置的精度和可靠性,保证光学计量仪器的测量精度和稳定性,促进光学计量技术的发展和应用。

相关标准:
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