JB/T 9352-1999
透射电子显微镜 试验方法
发布时间:1999-08-06 实施时间:2000-01-01
透射电子显微镜是一种高分辨率的显微镜,可以用来观察材料的微观结构和成分。本标准主要针对透射电子显微镜的试验方法进行规定,包括样品制备、试验设备、试验方法、试验结果的处理和分析等内容。
1. 试验设备
透射电子显微镜试验需要使用透射电子显微镜设备,该设备应符合国家相关标准的要求。同时,还需要配备样品制备设备、图像分析软件等辅助设备。
2. 样品制备
样品制备是透射电子显微镜试验的关键步骤之一。样品制备应根据试验要求进行,包括样品的选择、切片、抛光、薄化等步骤。样品制备过程中需要注意避免样品受到污染和损伤。
3. 试验方法
透射电子显微镜试验方法包括样品的放置、对焦、调整、成像等步骤。试验过程中需要注意保持试验环境的稳定,避免干扰和误差的产生。
4. 试验结果的处理和分析
试验结果的处理和分析是透射电子显微镜试验的重要环节。试验结果应进行图像分析、成分分析等处理和分析,得出准确的试验结果。
相关标准
- GB/T 16557-1996 透射电子显微镜技术条件
- GB/T 16558-1996 透射电子显微镜检验方法
- GB/T 16559-1996 透射电子显微镜标准样品制备方法
- GB/T 16560-1996 透射电子显微镜图像分析方法
- GB/T 16561-1996 透射电子显微镜成分分析方法