光学晶体透过率是指光线通过晶体后的光强与入射光强之比。透过率是光学晶体的重要性能指标之一，对于光学元件的设计和制造具有重要意义。本标准规定了光学晶体透过率的测量方法，以保证测量结果的准确性和可靠性。

1. 测量原理

本标准采用单色光透过法测量光学晶体的透过率。即将单色光通过待测样品，测量透过样品的光强，再测量未经过样品的光强，两者之比即为透过率。

2. 测量仪器

本标准所需的测量仪器包括：单色光源、光电探测器、样品台、光学滤波器、光学元件等。

3. 测量步骤

(1) 样品制备：将待测样品切割成适当大小的薄片，并进行抛光处理，使其表面光洁度达到要求。

(2) 测量条件设置：根据待测样品的特性，选择合适的单色光源和光学滤波器，设置测量条件。

(3) 样品安装：将样品放置在样品台上，并调整样品的位置和方向，使光线垂直于样品表面。

(4) 测量：打开单色光源，使光线通过光学滤波器，然后通过待测样品，最后被光电探测器接收。记录透过样品的光强和未经过样品的光强，计算透过率。

4. 测量结果的表示

本标准规定了透过率的表示方法。透过率的单位为百分数，保留两位小数。例如，透过率为85.23%。

相关标准
GB/T 19638-2005 光学玻璃透过率测量方法
GB/T 19639-2005 光学玻璃反射率测量方法
GB/T 19640-2005 光学玻璃折射率测量方法
GB/T 19641-2005 光学玻璃色散测量方法
GB/T 19642-2005 光学玻璃光谱透过率测量方法