JB/T 7778.1-2008
银碳化钨电触头材料化学分析方法 第1部分:硫氰酸盐容量法测定银量
发布时间:2008-02-01 实施时间:2008-07-01
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银碳化钨电触头材料是一种常用的电接触材料,其性能直接影响着电器设备的使用寿命和可靠性。银碳化钨电触头材料中银量的测定是评价其质量的重要指标之一。本标准规定了硫氰酸盐容量法测定银量的方法。
硫氰酸盐容量法是一种常用的化学分析方法,其原理是利用硫氰酸盐与银离子在一定条件下的反应,测定银离子的含量。该方法具有操作简便、准确度高、灵敏度好等优点,被广泛应用于银盐、银合金等材料中银量的测定。
本标准规定了银碳化钨电触头材料中银量的测定方法,包括样品的制备、试剂的配制、测定条件的控制等内容。其中,样品的制备是关键步骤之一,需要保证样品的均匀性和代表性。试剂的配制也需要严格按照标准规定的比例进行,以保证测定结果的准确性。
本标准适用于银碳化钨电触头材料中银量的测定,可用于质量控制、产品检验等领域。
相关标准:
GB/T 6988-1986 电接触材料化学分析方法
GB/T 6989-1986 电接触材料物理性能试验方法
GB/T 6990-1986 电接触材料机械性能试验方法
GB/T 6991-1986 电接触材料电学性能试验方法
GB/T 6992-1986 电接触材料热学性能试验方法