JB/T 9495.2-1999
光学晶体折射率测量方法
发布时间:1999-08-06 实施时间:2000-01-01


光学晶体是一种具有特殊光学性质的晶体材料,其折射率是光学设计和制造中非常重要的参数。本标准规定了光学晶体折射率测量的方法,旨在保证测量结果的准确性和可靠性。

测量原理
本标准采用的是自制反射式折射仪进行测量。该仪器利用光线在晶体表面反射的原理,测量晶体的折射率。具体来说,将一束光线从空气中垂直射入晶体表面,光线在晶体表面发生反射后,再次穿过晶体,最终被接收器接收。通过测量入射角和反射角之间的关系,可以计算出晶体的折射率。

测量装置
本标准所采用的反射式折射仪由光源、反射镜、晶体样品、接收器和角度测量装置等组成。其中,光源采用白炽灯或氙灯,反射镜和接收器均采用高反射率的金属材料,以保证光线的反射和接收效率。晶体样品应具有平整的表面和高度透明的质量,以保证测量的准确性。

测量程序
测量程序包括样品的准备、仪器的校准、测量数据的采集和处理等步骤。在进行测量之前,应先对仪器进行校准,以保证测量结果的准确性。校准时应使用已知折射率的标准样品进行比对。在测量过程中,应注意控制光源的亮度和稳定性,保证测量数据的稳定性和可靠性。测量数据的处理应采用适当的方法,如平均值法、线性拟合法等。

数据处理和结果表示
测量数据的处理应包括数据的平均值、标准差和误差分析等。测量结果应以折射率的形式表示,并应注明测量条件和误差范围等信息。

相关标准
GB/T 19638-2005 光学晶体折射率测量方法
GB/T 19639-2005 光学晶体厚度测量方法
GB/T 19640-2005 光学晶体透过率测量方法
GB/T 19641-2005 光学晶体色散测量方法
GB/T 19642-2005 光学晶体相位差测量方法