JB/T 8270-1999
静电复印光导体膜层厚度 测量方法
发布时间:1999-08-06 实施时间:2000-01-01


静电复印是一种常见的办公室打印方式,其核心部件是光导体膜层。光导体膜层的厚度是影响静电复印质量的重要因素之一,因此需要对其进行精确的测量。本标准就是为了规范静电复印光导体膜层厚度的测量方法。

本标准适用于静电复印机光导体膜层厚度的测量,包括单色和彩色静电复印机。测量方法采用非接触式光学测量,可以测量光导体膜层的厚度和均匀性。

具体测量步骤如下:

1. 准备工作

将静电复印机的光导体膜层取下,并清洗干净。将测量仪器校准好,并将其放置在稳定的平台上。

2. 测量

将光导体膜层放置在测量仪器上,调整仪器的位置和参数,开始测量。测量时需要保证光线垂直于光导体膜层表面,并且测量仪器的光源和探测器之间的距离要保持一定的距离。

3. 结果处理

测量完成后,将测量结果进行处理,得到光导体膜层的厚度和均匀性数据。根据需要,可以进行多次测量,取平均值作为最终结果。

本标准的实施可以保证静电复印机光导体膜层厚度的测量精度和可靠性,有助于提高静电复印机的打印质量和稳定性。

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