JB/T 5482-2011
X射线晶体定向仪
发布时间:2011-12-20 实施时间:2012-04-01
X射线晶体定向仪是一种用于测量晶体结构的仪器。它可以通过测量晶体中X射线的衍射图案来确定晶体的结构。X射线晶体定向仪广泛应用于材料科学、化学、生物学等领域。
本标准规定了X射线晶体定向仪的技术要求,包括仪器的结构、性能、精度等方面。其中,仪器的结构要求包括仪器的外形尺寸、重量、安装方式等;仪器的性能要求包括X射线源的特性、检测器的特性、控制系统的特性等;仪器的精度要求包括测量精度、重复性、稳定性等。
本标准还规定了X射线晶体定向仪的试验方法,包括仪器的安装、调试、校准、测量等方面。试验方法的要求包括试验条件、试验步骤、试验数据处理等。
本标准还规定了X射线晶体定向仪的检验规则,包括检验项目、检验方法、检验结果判定等方面。检验规则的要求包括检验标准、检验程序、检验记录等。
本标准还规定了X射线晶体定向仪的标志、包装、运输和贮存要求。其中,标志要求包括产品名称、型号、生产厂家等;包装要求包括包装材料、包装方式、包装标志等;运输要求包括运输方式、运输条件、运输标志等;贮存要求包括贮存条件、贮存期限等。
相关标准
GB/T 19000-2016 质量管理体系要求
GB/T 2828.1-2012 采样检验程序第1部分:按比例抽样检验程序
GB/T 2829-2002 采样检验程序第2部分:计数抽样检验程序
GB/T 13384-2008 包装通用术语
GB/T 191-2008 包装通用标志和标记