JB/T 9499.7-1999
康铜电阻合金化学分析方法 硅钼兰光度法测定硅量
发布时间:1999-08-06 实施时间:2000-01-01
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康铜电阻合金是一种电阻合金,主要由铜、镍、锰、铬、硅等元素组成。其中硅是康铜电阻合金中的重要元素之一,其含量的高低直接影响着康铜电阻合金的电阻率和机械性能。因此,准确测定康铜电阻合金中硅的含量对于保证康铜电阻合金的质量和性能具有重要意义。
本标准采用硅钼兰光度法测定康铜电阻合金中硅的含量。该方法的原理是:将康铜电阻合金样品中的硅与硫酸和氢氟酸混合加热,使硅转化为硅酸,然后加入过量的钼酸和还原剂,使硅酸转化为蓝色的钼酸硅酸盐,最后用分光光度计测定其吸光度,从而计算出样品中硅的含量。
本标准中规定了康铜电阻合金样品的制备方法、试剂的配制方法、操作步骤、测定结果的计算方法等内容。同时,还规定了测定过程中的注意事项和可能出现的误差及其处理方法。
相关标准:
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