光学晶体散射颗粒度测量是指测量晶体中散射颗粒的大小和分布情况。该测量方法适用于晶体中散射颗粒的测量，如晶体中的杂质、气泡等。

测量前需要准备好样品，样品应该是均匀的晶体。样品的制备应该避免在样品中引入新的散射颗粒。样品的制备方法应该根据不同的晶体材料进行选择。

测量时需要使用散射光学仪器，该仪器应该满足以下要求：

1. 具有足够的光源强度，以保证测量的精度和准确性。

2. 具有足够的分辨率，以区分不同大小的散射颗粒。

3. 具有足够的稳定性，以保证测量结果的可靠性。

测量时需要将样品放置在散射光学仪器中，通过测量样品中的散射光强度来计算散射颗粒的大小和分布情况。测量结果应该根据实际情况进行修正和校正。

本标准的实施应该遵循以下原则：

1. 根据实际情况选择合适的测量方法和仪器。

2. 根据实际情况选择合适的样品制备方法。

3. 根据实际情况进行测量结果的修正和校正。

相关标准
GB/T 5480-2008 光学玻璃
GB/T 5481-2008 光学玻璃光谱特性的测量方法
GB/T 5482-2008 光学玻璃物理性能的测量方法
GB/T 5483-2008 光学玻璃化学性能的测量方法
GB/T 5484-2008 光学玻璃机械性能的测量方法