JB/T 10034-2012
光栅角位移测量系统
发布时间:2012-05-24 实施时间:2012-11-01
:
光栅角位移测量系统是一种用于测量角度变化的高精度测量系统。它主要由光栅、光电探测器、信号处理器和显示器等组成。光栅角位移测量系统具有测量精度高、测量范围广、测量原理简单等优点,被广泛应用于机械制造、航空航天、电子仪器等领域。
本标准规定了光栅角位移测量系统的技术要求,包括测量精度、测量范围、分辨率、输出信号等方面。其中,测量精度是光栅角位移测量系统的重要指标之一,它直接影响到测量结果的准确性。本标准规定了不同精度等级的光栅角位移测量系统的测量精度要求,以满足不同应用领域的需求。
此外,本标准还规定了光栅角位移测量系统的检验方法,包括外观检查、基本误差检查、重复性检查等方面。这些检验方法可以有效地保证光栅角位移测量系统的质量,提高其可靠性和稳定性。
相关标准:
GB/T 15242.1-1994 光栅尺 第1部分:一般技术要求
GB/T 15242.2-1994 光栅尺 第2部分:检验方法
GB/T 15242.3-1994 光栅尺 第3部分:安装和使用
GB/T 15242.4-1994 光栅尺 第4部分:标志、包装、运输和贮存
GB/T 15242.5-1994 光栅尺 第5部分:光栅尺系统的误差检查方法