光学晶体是一种具有特殊光学性质的晶体，其光学性质的均匀性对于光学器件的性能有着重要的影响。因此，对于光学晶体的光学均匀性进行测量是非常必要的。

本标准规定了光学晶体光学均匀性测量的方法。测量时需要使用一台光谱仪和一台样品旋转台。首先，将样品放置在样品旋转台上，并将光谱仪与样品旋转台对准。然后，通过旋转样品旋转台，使得样品中心的位置不变，但是样品的不同位置对应的光谱数据可以被测量到。最后，通过对测量到的光谱数据进行分析，可以得到样品的光学均匀性。

在进行测量时，需要注意以下几点：

1. 样品的表面应该是光滑的，以避免表面的不均匀性对测量结果的影响。

2. 光谱仪的分辨率应该足够高，以保证测量到的光谱数据的准确性。

3. 样品旋转台的旋转速度应该适中，以保证测量到的光谱数据的稳定性。

4. 在测量过程中，应该避免外界光源的干扰，以保证测量结果的准确性。

总之，本标准规定了一种可靠的光学晶体光学均匀性测量方法，可以为光学器件的设计和制造提供重要的参考依据。

相关标准
GB/T 5480-2008 光学玻璃
GB/T 5481-2008 光学玻璃光谱特性的测量方法
GB/T 5482-2008 光学玻璃光学均匀性的测量方法
GB/T 5483-2008 光学玻璃折射率的测量方法
GB/T 5484-2008 光学玻璃色散的测量方法