JB/T 9341.2-2013
计量光栅 第2部分:数显表(卡)
发布时间:2013-12-31 实施时间:2014-07-01


计量光栅是一种用于测量光学元件表面形状的仪器,它通过光栅的干涉原理来测量光学元件表面的形状。计量光栅数显表(卡)是计量光栅的一种配套设备,用于读取计量光栅的干涉条纹,从而得到被测物体表面的形状信息。

本标准规定了计量光栅数显表(卡)的术语和定义、型号和规格、要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输和贮存。其中,要求包括外观要求、功能要求、技术要求和安全要求等方面。

外观要求包括表面光洁度、表面无明显划痕和变形等方面。功能要求包括读数准确性、重复性、稳定性等方面。技术要求包括分辨率、测量范围、工作温度等方面。安全要求包括电气安全、机械安全等方面。

试验方法包括外观检验、读数准确性试验、重复性试验、稳定性试验、分辨率试验、测量范围试验、工作温度试验等方面。检验规则包括抽样规则、检验项目和标准、判定方法等方面。

标志包括产品名称、型号、生产厂家、生产日期等方面。包装、运输和贮存要求包括包装方式、运输方式、贮存条件等方面。

相关标准:
GB/T 19633-2005 光学元件 表面质量
GB/T 19634-2005 光学元件 表面形状
GB/T 19635-2005 光学元件 表面平整度
GB/T 19636-2005 光学元件 表面粗糙度
GB/T 19637-2005 光学元件 表面清洁度