JB/T 5537-2006
半导体压力传感器
发布时间:2006-12-31 实施时间:2007-07-01


一、范围
本标准规定了半导体压力传感器的技术要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输和贮存。

本标准适用于用于测量气体或液体压力的半导体压力传感器。

二、引用标准
下列标准中的条款通过本标准的引用成为本标准的条款。对于引用的标准,应按照引用标准的最新版本适用。

GB/T 191 Packaging - Pictorial marking for handling of goods
GB/T 2423.1 Environmental testing for electric and electronic products - Part 2: Test methods - Tests A: Cold
GB/T 2423.2 Environmental testing for electric and electronic products - Part 2: Test methods - Tests B: Dry heat
GB/T 2423.3 Environmental testing for electric and electronic products - Part 2: Test methods - Test Cab: Damp heat, steady state
GB/T 2423.10 Environmental testing for electric and electronic products - Part 2: Test methods - Test Fc: Vibration (sinusoidal)

三、术语和定义
本标准所涉及的术语和定义见GB/T 7665.1。

四、技术要求
4.1 一般要求
半导体压力传感器应符合本标准规定的技术要求,并满足设计要求。

4.2 精度等级
半导体压力传感器的精度等级应符合设计要求,并应在产品标志中注明。

4.3 静态特性
半导体压力传感器的静态特性应符合设计要求,并应在产品标志中注明。

4.4 动态特性
半导体压力传感器的动态特性应符合设计要求,并应在产品标志中注明。

4.5 环境适应性
半导体压力传感器应具有良好的环境适应性,应符合设计要求。

4.6 电气特性
半导体压力传感器的电气特性应符合设计要求,并应在产品标志中注明。

4.7 机械特性
半导体压力传感器的机械特性应符合设计要求,并应在产品标志中注明。

4.8 可靠性
半导体压力传感器应具有良好的可靠性,应符合设计要求。

五、试验方法
5.1 一般试验方法
半导体压力传感器的试验方法应符合设计要求,并应在产品标志中注明。

5.2 精度等级试验
半导体压力传感器的精度等级试验应符合设计要求,并应在产品标志中注明。

5.3 静态特性试验
半导体压力传感器的静态特性试验应符合设计要求,并应在产品标志中注明。

5.4 动态特性试验
半导体压力传感器的动态特性试验应符合设计要求,并应在产品标志中注明。

5.5 环境适应性试验
半导体压力传感器的环境适应性试验应符合设计要求,并应在产品标志中注明。

5.6 电气特性试验
半导体压力传感器的电气特性试验应符合设计要求,并应在产品标志中注明。

5.7 机械特性试验
半导体压力传感器的机械特性试验应符合设计要求,并应在产品标志中注明。

5.8 可靠性试验
半导体压力传感器的可靠性试验应符合设计要求,并应在产品标志中注明。

六、检验规则
6.1 检验方法
半导体压力传感器的检验方法应符合设计要求,并应在产品标志中注明。

6.2 检验项目
半导体压力传感器的检验项目应符合设计要求,并应在产品标志中注明。

6.3 检验结果
半导体压力传感器的检验结果应符合设计要求,并应在产品标志中注明。

七、标志、包装、运输和贮存
7.1 标志
半导体压力传感器的标志应符合设计要求,并应在产品标志中注明。

7.2 包装
半导体压力传感器的包装应符合设计要求,并应在产品标志中注明。

7.3 运输
半导体压力传感器的运输应符合设计要求,并应在产品标志中注明。

7.4 贮存
半导体压力传感器的贮存应符合设计要求,并应在产品标志中注明。

相关标准
GB/T 7665.1 传感器术语
GB/T 2423.1-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法试验A:低温
GB/T 2423.2-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法试验B:高温
GB/T 2423.3-2006 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法试验Ca:湿热稳态
GB/T 2423.10-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法试验Fc:振动(正弦)