JB/T 6066-2004
无损检测 磁粉检测用环形试块
发布时间:2004-06-17 实施时间:2004-11-01
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磁粉检测是一种常用的无损检测方法,用于检测金属材料表面和近表面的裂纹、夹杂、气孔等缺陷。磁粉检测用环形试块是磁粉检测中常用的标准试块,用于检验磁粉检测设备的性能和灵敏度。
本标准规定了磁粉检测用环形试块的分类、尺寸、材料、制造、检验、标志、包装、运输和贮存。其中,试块分为三类,分别是标准试块、参考试块和特殊试块。标准试块是用于检验磁粉检测设备性能的试块,参考试块是用于检验磁粉检测设备灵敏度的试块,特殊试块是用于检验特殊要求的试块。
试块的尺寸和材料应符合标准规定,制造过程中应注意保证试块的表面光洁度和尺寸精度。试块的检验应包括外观检查、尺寸检查、磁性能检查等项目,合格后应进行标志、包装、运输和贮存。
本标准的实施可以保证磁粉检测用环形试块的质量和性能,提高磁粉检测的准确性和可靠性,对于保障工业生产安全和质量具有重要意义。
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