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静电复印是一种常见的办公室打印方式，其使用的光导体表面质量对打印质量有着重要的影响。因此，对光导体表面缺陷的测量方法十分重要。JB/T 8268-2015《静电复印光导体表面缺陷测量方法》就是为了解决这一问题而制定的标准。

该标准主要包括以下内容：

1.术语和定义：对本标准中所使用的术语和定义进行了说明，以便于标准的理解和应用。

2.测量原理：介绍了测量光导体表面缺陷的原理，包括使用显微镜观察和使用光学显微镜观察两种方法。

3.测量仪器：对测量光导体表面缺陷所需的仪器进行了说明，包括显微镜、光学显微镜、光源等。

4.样品制备：对样品的制备进行了说明，包括样品的选择、样品的处理等。

5.测量方法：对测量光导体表面缺陷的具体方法进行了说明，包括使用显微镜观察和使用光学显微镜观察两种方法。

6.结果处理：对测量结果的处理进行了说明，包括结果的记录、结果的分析等。

7.报告：对测量结果的报告进行了说明，包括报告的内容、报告的格式等。

该标准的实施可以有效地提高静电复印光导体表面缺陷的测量准确性和可靠性，保证打印质量的稳定性和一致性。

相关标准：
GB/T 2828.1-2012 采样检验程序 第1部分：按比例抽样计划的程序
GB/T 2829-2002 采样检验程序与表观检验法（基本程序）
GB/T 8170-2008 数值修约规则及其在计算中的应用
GB/T 9969-2013 金属材料表面缺陷检验通用规则
GB/T 11944-2012 金属材料表面缺陷检验方法