JB/T 12962.3-2016
能量色散X射线荧光光谱仪 第3部分:镀层厚度分析仪
发布时间:2016-10-22 实施时间:2017-04-01
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能量色散X射线荧光光谱仪是一种用于分析材料成分和厚度的仪器。在工业生产和科学研究中,经常需要对材料表面进行镀层处理,以提高材料的性能和使用寿命。而镀层的厚度是影响其性能的重要因素之一。因此,开发一种能够准确测量镀层厚度的仪器,对于保证产品质量和提高生产效率具有重要意义。
JB/T 12962.3-2016标准规定了能量色散X射线荧光光谱仪用于镀层厚度分析的技术要求、检验方法、标志、包装、运输和贮存等内容。其中,技术要求包括仪器的基本参数、测量范围、测量精度、分辨率、稳定性、重复性等。检验方法包括仪器的外观检查、性能检查、测量精度检查等。标志、包装、运输和贮存等内容则规定了仪器的标志、包装方式、运输方式和贮存条件等。
该标准的实施,可以保证能量色散X射线荧光光谱仪在镀层厚度分析方面的准确性和可靠性,为工业生产和科学研究提供了重要的技术支持。
相关标准:
1. GB/T 34205-2017 金属材料表面镀层厚度测量方法
2. GB/T 6461-2002 金属材料表面镀层和化学处理膜的腐蚀试验方法
3. GB/T 6462-2002 金属材料表面镀层和化学处理膜的耐磨试验方法
4. GB/T 6463-2002 金属材料表面镀层和化学处理膜的硬度试验方法
5. GB/T 6464-2002 金属材料表面镀层和化学处理膜的粘着力试验方法