JB/T 10033-2018
测微头
发布时间:2018-04-30 实施时间:2018-12-01


测微头是一种用于精密测量的光学仪器,广泛应用于机械加工、电子制造、精密仪器制造等领域。测微头的主要作用是测量物体的长度、直径、深度等尺寸参数,具有高精度、高灵敏度、易于操作等特点。

本标准规定了测微头的术语和定义,包括测微头、测微头分度盘、测微头测量范围、测微头分度值等。同时,本标准还规定了测微头的型号和规格,包括测微头的测量范围、分度值、分度盘直径、测头长度等。

在技术要求方面,本标准规定了测微头的主要技术指标,包括测微头的测量误差、重复性误差、分度误差、回程误差等。此外,本标准还规定了测微头的外观质量、机械性能、环境适应性等方面的要求。

为了保证测微头的质量,本标准还规定了测微头的试验方法和检验规则。试验方法包括测微头的测量误差试验、重复性误差试验、分度误差试验、回程误差试验等。检验规则包括测微头的外观检验、机械性能检验、环境适应性检验等。

最后,本标准还规定了测微头的标志、包装、运输和贮存要求。测微头应当标注型号、规格、制造厂家等信息,并应当采用适当的包装材料进行包装,以确保测微头在运输和贮存过程中不受损坏。

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