JB/T 13360-2018
荧光检测分析用干涉滤光片
发布时间:2018-04-30 实施时间:2018-12-01


荧光检测分析用干涉滤光片是一种用于荧光检测分析的光学元件,具有特定的光学性能和使用要求。本标准旨在规范荧光检测分析用干涉滤光片的技术要求和检验方法,以保证其质量和可靠性。

1. 分类
荧光检测分析用干涉滤光片按照其光学性能和使用要求分为以下几类:
- 透过型干涉滤光片
- 反射型干涉滤光片
- 偏振型干涉滤光片

2. 要求
荧光检测分析用干涉滤光片应符合以下要求:
- 光学性能符合规定
- 表面平整度符合规定
- 光学膜层质量符合规定
- 尺寸精度符合规定
- 光学性能稳定性符合规定

3. 试验方法
荧光检测分析用干涉滤光片的试验方法包括以下内容:
- 外观检查
- 光学性能检查
- 尺寸精度检查
- 光学膜层质量检查
- 光学性能稳定性检查

4. 检验规则
荧光检测分析用干涉滤光片的检验规则包括以下内容:
- 检验方法
- 检验项目
- 检验结果判定
- 检验记录

5. 标志、包装、运输和贮存
荧光检测分析用干涉滤光片应标明以下内容:
- 产品名称
- 规格型号
- 生产厂家名称
- 生产日期
- 光学性能参数

荧光检测分析用干涉滤光片应采用适当的包装方式进行包装,以保证其在运输和贮存过程中不受损坏。在贮存过程中,应注意避免阳光直射和潮湿环境。

相关标准
- GB/T 7923-2008 光学玻璃
- GB/T 11825-2012 光学涂层
- GB/T 19638.1-2019 光学元件 表面质量
- GB/T 19638.2-2019 光学元件 尺寸和偏差
- GB/T 19638.3-2019 光学元件 光学性能