WS 520-2017
计算机X射线摄影(CR)质量控制检测规范
发布时间:2017-04-10 实施时间:2017-10-01


计算机X射线摄影(CR)是一种数字成像技术,广泛应用于医学、工业、安检等领域。为了保证CR系统的成像质量和稳定性,需要进行质量控制检测。本标准规定了CR系统的质量控制检测要求和方法,以确保CR系统的成像质量和稳定性。

1. CR系统的质量控制检测要求
CR系统的质量控制检测应包括以下内容:
(1)曝光剂量的准确性和稳定性;
(2)成像板的灵敏度和分辨率;
(3)成像板的噪声和伪影;
(4)成像板的线性响应;
(5)成像板的暗电流和暗信号;
(6)成像板的平坦度和均匀性;
(7)成像系统的几何失真;
(8)成像系统的空间分辨率;
(9)成像系统的对比度和灰度响应;
(10)成像系统的图像重复性和稳定性。

2. CR系统的质量控制检测方法
CR系统的质量控制检测方法应包括以下内容:
(1)曝光剂量的准确性和稳定性:使用曝光剂量测量仪进行测量;
(2)成像板的灵敏度和分辨率:使用灵敏度和分辨率测试工具进行测量;
(3)成像板的噪声和伪影:使用噪声和伪影测试工具进行测量;
(4)成像板的线性响应:使用线性响应测试工具进行测量;
(5)成像板的暗电流和暗信号:使用暗电流和暗信号测试工具进行测量;
(6)成像板的平坦度和均匀性:使用平坦度和均匀性测试工具进行测量;
(7)成像系统的几何失真:使用几何失真测试工具进行测量;
(8)成像系统的空间分辨率:使用空间分辨率测试工具进行测量;
(9)成像系统的对比度和灰度响应:使用对比度和灰度响应测试工具进行测量;
(10)成像系统的图像重复性和稳定性:使用图像重复性和稳定性测试工具进行测量。

3. CR系统的质量控制检测频率
CR系统的质量控制检测应按照以下频率进行:
(1)曝光剂量的准确性和稳定性:每个工作日进行一次;
(2)成像板的灵敏度和分辨率:每个月进行一次;
(3)成像板的噪声和伪影:每个月进行一次;
(4)成像板的线性响应:每个月进行一次;
(5)成像板的暗电流和暗信号:每个月进行一次;
(6)成像板的平坦度和均匀性:每个月进行一次;
(7)成像系统的几何失真:每个月进行一次;
(8)成像系统的空间分辨率:每个月进行一次;
(9)成像系统的对比度和灰度响应:每个月进行一次;
(10)成像系统的图像重复性和稳定性:每个月进行一次。

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