HS/T 52-2016
含氧化镁系列矿产品的X荧光定量分析方法
发布时间:2016-02-29 实施时间:2016-03-01


含氧化镁系列矿产品是一种重要的工业原料,广泛应用于冶金、建材、化工等领域。为了保证产品质量,需要对其化学成分进行分析。本标准提供了一种X荧光定量分析方法,可用于含氧化镁系列矿产品的化学成分分析。

X荧光是一种非破坏性的分析方法,具有快速、准确、灵敏等优点。本标准采用X荧光光谱仪进行分析,通过测量样品中元素的荧光强度,计算出其含量。本标准适用于含氧化镁系列矿产品中氧化镁、氧化铁、氧化钙、氧化硅等元素的定量分析。

本标准的具体操作步骤如下:

1. 样品制备:将样品研磨成粉末,并经过筛分,取适量样品放入试样杯中。

2. 仪器校准:根据仪器的使用说明书进行校准,包括能量校准、仪器响应校准等。

3. 分析条件设置:根据样品的特性和分析要求,设置分析条件,包括激发能量、滤光片、计数时间等。

4. 分析:将试样杯放入样品台中,启动仪器进行分析。分析完成后,记录荧光强度值。

5. 计算:根据荧光强度值和标准样品的荧光强度值,计算出样品中元素的含量。

本标准的实施可以提高含氧化镁系列矿产品的化学成分分析的准确性和可靠性,为产品质量的控制提供了科学依据。

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