SY/T 7410.2-2020
岩石三维孔隙结构测定方法 第2部分:聚焦离子束切片法
发布时间:2020-10-23 实施时间:2021-02-01


岩石是地球上最基本的构成元素之一,其孔隙结构对于岩石的物理、化学、力学性质具有重要影响。因此,对于岩石孔隙结构的测定和分析是岩石学、地质学等领域的重要研究内容。传统的岩石孔隙结构测定方法主要是基于二维图像的分析,这种方法存在着很多局限性,如不能准确反映孔隙的三维形态、孔隙连通性等信息。随着计算机技术和图像处理技术的发展,三维孔隙结构测定方法逐渐成为了研究的热点。

SY/T 7410.2-2020《岩石三维孔隙结构测定方法 第2部分:聚焦离子束切片法》是一项针对岩石三维孔隙结构测定的标准,该标准规定了使用聚焦离子束切片法进行岩石三维孔隙结构测定的方法和步骤。聚焦离子束切片法是一种基于离子束切割样品的方法,可以获得高分辨率的三维图像数据,从而准确反映岩石的孔隙结构特征。

SY/T 7410.2-2020标准主要包括以下内容:

1. 聚焦离子束切片法的原理和基本步骤;
2. 样品的制备和处理方法;
3. 三维图像数据的获取和处理方法;
4. 孔隙结构参数的计算和分析方法;
5. 结果的表达和报告。

该标准的实施可以提高岩石孔隙结构测定的准确性和可靠性,为岩石学、地质学等领域的研究提供了重要的技术支持。

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