岩石样品扫描电子显微镜分析方法是一种常用的岩石学分析方法，可以通过SEM观察岩石样品的微观结构和成分，为岩石学研究提供重要的数据支持。本标准规定了岩石样品SEM分析的要求和试验步骤，以保证SEM分析结果的准确性和可靠性。

1.范围
本标准适用于岩石样品的SEM分析，包括岩石薄片、岩心、钻孔样品等。

2.设备和试剂
2.1 SEM设备应符合国家标准或行业标准的要求。
2.2 试剂应符合国家标准或行业标准的要求。

3.试验步骤
3.1 样品制备
将岩石样品制成适当大小的样品块或薄片，然后进行表面处理，如抛光、蚀刻等。
3.2 SEM观察
将样品放入SEM观察室，进行SEM观察。观察时应选择合适的电子束加速电压、电子束聚焦、探测器类型等参数，以获得清晰的SEM图像。
3.3 SEM分析
根据SEM图像，进行SEM分析，包括元素分析、晶体结构分析等。分析时应选择合适的分析方法和软件，以获得准确的分析结果。

4.结果处理
根据SEM分析结果，进行数据处理和分析，得出结论。

相关标准
GB/T 14506.1-2010 岩石分类学 第1部分：岩石命名原则
GB/T 14506.2-2010 岩石分类学 第2部分：岩石分类
GB/T 14506.3-2010 岩石分类学 第3部分：岩石命名
GB/T 14506.4-2010 岩石分类学 第4部分：岩石命名规则
GB/T 14506.5-2010 岩石分类学 第5部分：岩石命名方法