晶体谐振器是一种广泛应用于电子设备中的元器件，其主要作用是产生稳定的频率信号。为了保证晶体谐振器的性能，需要对其参数进行精确测量。IEC 60444-2:1980就是一项关于晶体谐振器参数测量的标准。

本标准采用了零相位技术，在pi网络中进行测量。pi网络是一种常用的电路结构，由一个串联的电感和两个并联的电容组成。在pi网络中，晶体谐振器的等效电路可以表示为一个串联的电感和电容，并联一个电阻。通过测量pi网络中的电压和电流，可以计算出晶体谐振器的参数。

本标准主要介绍了相位偏移法用于测量晶体谐振器动态电容的方法。动态电容是指晶体谐振器在振荡时产生的电容变化。相位偏移法是一种基于相位差测量的方法，通过测量晶体谐振器在不同频率下的相位差，可以计算出其动态电容。

相位偏移法的测量原理如下：在pi网络中，晶体谐振器的等效电路可以表示为一个串联的电感L1和电容C1，并联一个电阻R1。当晶体谐振器振荡时，其等效电路中的电容C1会发生变化，从而导致电路中的相位差发生变化。在pi网络中，相位差可以表示为：

φ = arctan(ωL1 - 1/ωC1R1)

其中，ω为角频率。通过测量不同频率下的相位差，可以计算出晶体谐振器的动态电容。

本标准还介绍了相位偏移法的测量步骤和注意事项。例如，测量时需要保证晶体谐振器处于振荡状态，并且测量频率范围应该覆盖晶体谐振器的谐振频率。此外，还需要注意测量误差的来源，例如电路中的噪声和温度变化等因素。

总之，IEC 60444-2:1980是一项关于晶体谐振器参数测量的标准，采用了零相位技术在pi网络中进行测量。本标准主要介绍了相位偏移法用于测量晶体谐振器动态电容的方法，为晶体谐振器的性能测试提供了重要的参考。

相关标准
- IEC 60444-1:1980 晶体谐振器参数的零相位技术测量方法 - 第1部分：pi网络中的测量方法
- IEC 60444-3:1980 晶体谐振器参数的零相位技术测量方法 - 第3部分：pi网络中的测量方法（改进的方法）
- IEC 60444-4:1980 晶体谐振器参数的零相位技术测量方法 - 第4部分：pi网络中的测量方法（改进的方法）
- IEC 60444-5:1980 晶体谐振器参数的零相位技术测量方法 - 第5部分：pi网络中的测量方法（改进的方法）
- IEC 60444-6:1980 晶体谐振器参数的零相位技术测量方法 - 第6部分：pi网络中的测量方法（改进的方法）