晶体谐振器是一种广泛应用于电子设备中的元器件，其主要作用是产生稳定的频率信号。为了保证晶体谐振器的性能，需要对其参数进行精确测量。IEC 60444-2:1980就是一项关于晶体谐振器参数测量的标准。

本标准采用了零相位技术，在pi网络中进行测量。pi网络是一种常用的电路结构，由一个串联的电感和两个并联的电容组成。在pi网络中，晶体谐振器的等效电路可以表示为一个串联的电感和电容，并且电容的值与晶体谐振器的动态电容有关。

为了测量晶体谐振器的动态电容，本标准采用了相位偏移法。该方法的基本原理是，在pi网络中加入一个可调的电容，使得晶体谐振器的相位差为零。此时，加入的电容值就等于晶体谐振器的动态电容值。

相位偏移法的优点是测量精度高，适用于各种类型的晶体谐振器。但是，该方法需要使用复杂的电路结构和精密的测量设备，成本较高。

除了相位偏移法，本标准还介绍了其他几种测量晶体谐振器参数的方法，如串联谐振法、并联谐振法等。这些方法各有优缺点，可以根据实际需要选择合适的方法进行测量。

总之，IEC 60444-2:1980是一项重要的晶体谐振器参数测量标准，为晶体谐振器的设计和生产提供了可靠的技术支持。

相关标准
- IEC 60444-1:1980 晶体谐振器参数的零相位技术测量方法 - 第1部分：pi网络中的串联谐振法
- IEC 60444-3:1980 晶体谐振器参数的零相位技术测量方法 - 第3部分：pi网络中的并联谐振法
- IEC 60444-4:1980 晶体谐振器参数的零相位技术测量方法 - 第4部分：pi网络中的串并联谐振法
- IEC 60444-5:1980 晶体谐振器参数的零相位技术测量方法 - 第5部分：pi网络中的串并联谐振法的应用
- IEC 60444-6:1980 晶体谐振器参数的零相位技术测量方法 - 第6部分：pi网络中的串并联谐振法的应用