IEC TR 60444-4:1988
Measurement of quartz crystal unit parameters by zero phase technique in a pi-network. Part 4: Method for the measurement of the load resonance frequency fL, load resonance resistance RL and the calculation of other derived values of quartz crystal units, up to 30 MHz
发布时间：1988-06-30 实施时间：


晶体谐振器是一种广泛应用于电子设备中的元器件，其主要作用是产生稳定的频率信号。在实际应用中，晶体谐振器的参数测量是非常重要的，因为它直接影响到设备的性能和稳定性。IEC TR 60444-4:1988就是一项关于晶体谐振器参数测量的标准，采用零相位技术在π网络中进行测量。

该标准主要适用于测量负载谐振频率fL、负载谐振电阻RL和计算其他晶体谐振器衍生值，适用于30 MHz以下的晶体谐振器。在实际应用中，晶体谐振器的负载谐振频率和负载谐振电阻是非常重要的参数，因为它们直接影响到晶体谐振器的频率稳定性和品质因数。因此，准确地测量这些参数对于保证设备的性能和稳定性非常重要。

IEC TR 60444-4:1988采用了零相位技术进行测量，这是一种非常精确的测量方法。在π网络中，晶体谐振器的负载谐振频率和负载谐振电阻可以通过测量网络的传输相位和传输功率来计算。同时，该标准还提供了一些计算公式，可以用于计算其他晶体谐振器的衍生值，如谐振频率、品质因数等。

总之，IEC TR 60444-4:1988是一项非常重要的标准，它为晶体谐振器参数测量提供了一种精确的方法。在实际应用中，我们应该遵循该标准的要求，准确地测量晶体谐振器的参数，以保证设备的性能和稳定性。

相关标准
- IEC 60444-1:2010 晶体谐振器参数的测量方法
- IEC 60444-2:2010 晶体谐振器参数的测量方法之串联谐振电路
- IEC 60444-3:2010 晶体谐振器参数的测量方法之并联谐振电路
- IEC 60444-5:2010 晶体谐振器参数的测量方法之谐振频率和品质因数的测量
- IEC 60444-6:2010 晶体谐振器参数的测量方法之温度特性的测量