IEC 60748-11-1:1992是一项关于半导体器件的标准，主要涉及集成电路的内部视觉检查，但不包括混合电路。该标准规定了集成电路内部视觉检查的方法和要求，以确保集成电路的质量和可靠性。

该标准适用于所有类型的半导体集成电路，包括数字、模拟和混合信号集成电路。该标准要求对集成电路进行内部视觉检查，以检测可能存在的缺陷和损伤，例如裂纹、划痕、氧化、金属残留物等。

该标准规定了集成电路内部视觉检查的方法和要求，包括检查设备的选择、检查条件的确定、检查方法的描述等。检查设备应当具有足够的分辨率和放大倍数，以便能够清晰地观察到集成电路内部的细节和缺陷。检查条件应当根据集成电路的类型和封装形式进行确定，以确保检查的准确性和可靠性。检查方法应当详细描述，包括检查的步骤、注意事项、记录方式等。

该标准还规定了集成电路内部视觉检查的结果的评估方法和标准。根据检查结果，集成电路可以被分为三类：合格品、不合格品和可修复品。合格品是指没有任何缺陷或损伤的集成电路；不合格品是指存在严重缺陷或损伤的集成电路，不能使用；可修复品是指存在一些缺陷或损伤的集成电路，可以通过修复使其恢复正常工作。

总之，IEC 60748-11-1:1992是一项关于半导体器件的标准，主要涉及集成电路的内部视觉检查，但不包括混合电路。该标准规定了集成电路内部视觉检查的方法和要求，以确保集成电路的质量和可靠性。

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