IEC 60748-11-1:1992
Semiconductor devices - Integrated circuits - Part 11-1: Internal visual examination for semiconductor integrated circuits excluding hybrid circuits
发布时间:1992-04-01 实施时间:
IEC 60748-11-1:1992是一项关于半导体器件的标准,主要涉及集成电路的内部视觉检查,但不包括混合电路。该标准规定了集成电路内部视觉检查的方法和要求,以确保集成电路的质量和可靠性。
该标准适用于所有类型的集成电路,包括数字、模拟和混合信号集成电路。它规定了集成电路内部视觉检查的步骤和要求,包括检查器件的外观、尺寸、标识、引脚、焊盘、引线、金属化层、晶圆、芯片和封装等方面。
在进行集成电路内部视觉检查时,应使用适当的检查设备和工具,如显微镜、放大镜、光源、显微摄像机等。检查应在适当的环境条件下进行,如光线、温度、湿度等应符合要求。
该标准还规定了集成电路内部视觉检查的记录和报告要求,包括检查结果、检查日期、检查人员、检查设备和工具等信息。检查结果应记录在检查表中,并应及时报告给相关部门和人员。
总之,IEC 60748-11-1:1992是一项关于半导体器件的标准,主要涉及集成电路的内部视觉检查,但不包括混合电路。该标准规定了集成电路内部视觉检查的方法和要求,以确保集成电路的质量和可靠性。
相关标准
- IEC 60748-1:1992 半导体器件-集成电路-第1部分:总则
- IEC 60748-2-1:1992 半导体器件-集成电路-第2-1部分:数字集成电路
- IEC 60748-2-2:1992 半导体器件-集成电路-第2-2部分:模拟集成电路
- IEC 60748-2-3:1992 半导体器件-集成电路-第2-3部分:混合信号集成电路
- IEC 60748-2-4:1992 半导体器件-集成电路-第2-4部分:数字-模拟混合集成电路