石英晶体元件是一种用于振荡电路中的元器件，具有高精度、高稳定性、高可靠性等特点，广泛应用于通信、计算机、电子测量等领域。为了确保石英晶体元件的质量和可靠性，IEC制定了IEC 61178-2:1993标准，对石英晶体元件进行规范。

IEC 61178-2:1993标准规定了石英晶体元件的技术要求、试验方法、质量评定和包装等方面的要求。其中，技术要求包括石英晶体元件的频率稳定度、频率温度系数、频率偏差、谐振器品质因数等指标；试验方法包括频率测量、温度特性测试、机械振动测试、耐久性测试等；质量评定包括外观检查、电性能测试、可靠性测试等；包装要求包括包装材料、包装方式、标识等。

IEC 61178-2:1993标准要求石英晶体元件必须符合规定的技术要求和试验方法，才能被认为是合格的产品。同时，该标准还规定了石英晶体元件的质量评定标准，包括一般质量评定、特殊质量评定和特殊质量要求。一般质量评定适用于大多数应用场合，特殊质量评定适用于特殊应用场合，特殊质量要求适用于对石英晶体元件质量要求非常高的场合。

IEC 61178-2:1993标准还规定了石英晶体元件的包装要求，包括包装材料、包装方式、标识等。石英晶体元件必须采用适当的包装材料和包装方式，以确保在运输和存储过程中不受损坏。同时，必须在石英晶体元件上标识出产品型号、生产厂家、生产日期、批次号等信息，以便于追溯和管理。

总之，IEC 61178-2:1993标准为石英晶体元件的生产和使用提供了规范，有助于提高石英晶体元件的质量和可靠性，保障了电子产品的正常运行。

相关标准
- IEC 60444-1:2017 石英晶体元件的试验和测量方法 第1部分：一般试验方法
- IEC 60444-2:2017 石英晶体元件的试验和测量方法 第2部分：机械振动试验方法
- IEC 60444-3:2017 石英晶体元件的试验和测量方法 第3部分：温度特性试验方法
- IEC 60444-4:2017 石英晶体元件的试验和测量方法 第4部分：耐久性试验方法
- IEC 60444-5:2017 石英晶体元件的试验和测量方法 第5部分：频率测量方法