晶体谐振器是一种能够将电信号转换为机械振动信号的装置，广泛应用于电子设备中。晶体谐振器的性能参数对于电子设备的性能和稳定性具有重要影响。因此，准确测量晶体谐振器的等效电参数是非常重要的。

IEC 60444-5:1995标准规定了使用自动网络分析技术和误差校正确定晶体谐振器等效电参数的方法。该标准要求使用自动网络分析仪（ANA）进行测量，并对测量结果进行误差校正，以提高测量精度。

该标准规定了测量晶体谐振器等效电参数的步骤和方法。首先，需要对晶体谐振器进行预处理，包括去除外部电路的影响、调整晶体谐振器的频率和阻抗匹配等。然后，使用ANA对晶体谐振器进行测量，并记录测量结果。最后，对测量结果进行误差校正，以提高测量精度。

误差校正是提高测量精度的关键步骤。该标准规定了误差校正的方法和步骤。误差校正包括对ANA的误差进行校正和对晶体谐振器的误差进行校正。对ANA的误差校正包括对反射系数、传输系数和直流偏移等进行校正。对晶体谐振器的误差校正包括对谐振频率、谐振阻抗和谐振带宽等进行校正。

IEC 60444-5:1995标准的实施可以提高晶体谐振器等效电参数的测量精度，为电子设备的设计和制造提供可靠的参数参考。

相关标准
- IEC 60444-1:1999 晶体谐振器参数测量-第1部分：术语和定义
- IEC 60444-2:1999 晶体谐振器参数测量-第2部分：测量方法
- IEC 60444-3:1999 晶体谐振器参数测量-第3部分：测量电路
- IEC 60444-4:1999 晶体谐振器参数测量-第4部分：测量不确定度
- IEC 60444-6:1999 晶体谐振器参数测量-第6部分：测量结果的表示和解释