光纤涂层几何是光纤性能的重要指标之一，涂层几何的好坏直接影响光纤的传输性能和使用寿命。因此，对光纤涂层几何进行准确的测量和测试是非常重要的。IEC 60793-1-21:2001标准规定了光纤涂层几何的测量方法和测试程序，为光纤涂层几何的测量和测试提供了标准化的方法和程序。

IEC 60793-1-21:2001标准规定了涂层直径、涂层厚度、涂层偏心度和涂层圆度等参数的测量方法和测试程序。其中，涂层直径是指涂层外径的测量值，涂层厚度是指涂层内径和外径之间的距离，涂层偏心度是指涂层中心轴线与光纤中心轴线之间的距离，涂层圆度是指涂层外径和内径之间的差值。这些参数的测量方法和测试程序都需要严格遵守IEC 60793-1-21:2001标准中的规定。

IEC 60793-1-21:2001标准中还规定了光纤涂层几何测量和测试的设备和仪器的要求。例如，涂层直径的测量需要使用显微镜或投影仪等设备，涂层厚度的测量需要使用显微镜或扫描电子显微镜等设备，涂层偏心度的测量需要使用显微镜或光学测量仪等设备，涂层圆度的测量需要使用显微镜或投影仪等设备。这些设备和仪器需要满足IEC 60793-1-21:2001标准中的要求，以保证测量和测试的准确性和可靠性。

IEC 60793-1-21:2001标准的实施可以有效提高光纤涂层几何的测量和测试的准确性和可靠性，为光纤的生产和应用提供了标准化的方法和程序。同时，该标准的实施也有助于促进国际光纤技术的发展和交流，推动光纤技术的进步和应用。

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