IEC 61967-6:2002是一项非常重要的标准，它主要针对集成电路的电磁辐射进行测量，特别是在150 kHz至1 GHz频段内的传导辐射。该标准采用磁探针法进行测量，可以有效地评估集成电路的电磁辐射水平，从而确保集成电路在使用时不会对周围环境产生过多的电磁辐射。

在实际应用中，集成电路的电磁辐射问题一直是一个非常重要的问题。如果集成电路的电磁辐射水平过高，不仅会对周围环境产生干扰，还会对集成电路本身的性能产生影响。因此，对集成电路的电磁辐射进行测量和评估是非常必要的。

IEC 61967-6:2002标准主要包括以下内容：

1. 测量方法：该标准采用磁探针法进行测量，可以有效地评估集成电路的传导辐射水平。

2. 测量设备：该标准规定了测量设备的要求，包括磁探针、信号处理器、功率放大器等。

3. 测量环境：该标准规定了测量环境的要求，包括电磁屏蔽室、地面平整度、电源线滤波器等。

4. 测量程序：该标准规定了测量程序的要求，包括测量前的准备工作、测量过程中的注意事项、测量数据的处理等。

5. 测量结果：该标准规定了测量结果的评估方法，包括传导辐射水平的计算、评估标准的确定等。

总之，IEC 61967-6:2002标准是一项非常重要的标准，它为集成电路的电磁辐射测量提供了一种有效的方法，可以帮助制造商和测试人员评估集成电路的电磁辐射水平，从而确保集成电路在使用时不会对周围环境产生过多的电磁辐射。

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