石英晶体元件是一种基于石英晶体的振荡器元件，其主要特点是频率稳定性高、温度稳定性好、寿命长等。在电子设备中，石英晶体元件被广泛应用于时钟、计时、频率合成、调制解调等领域。为了保证石英晶体元件的性能和可靠性，需要对其参数进行精确的测量和评估。IEC 60444-7:2004就是针对石英晶体元件活性和频率陷落这两个重要参数的测量进行了规定。

石英晶体元件的活性是指其振荡器的输出信号在一定时间内的变化程度，通常用百万分之一（ppm）来表示。活性的大小与石英晶体元件的制造工艺、材料质量、封装方式等因素有关。活性的测量需要使用高精度的测试仪器，如频率计、计时器等。IEC 60444-7:2004规定了活性测量的方法和要求，包括测试仪器的精度、测试环境的温度、湿度等因素的控制，以及测试结果的计算和分析等。

频率陷落是指石英晶体元件在一定时间内频率的变化程度，通常用ppm来表示。频率陷落的大小与石英晶体元件的制造工艺、温度、电压等因素有关。频率陷落的测量需要使用高精度的测试仪器，如频率计、计时器等。IEC 60444-7:2004规定了频率陷落测量的方法和要求，包括测试仪器的精度、测试环境的温度、湿度等因素的控制，以及测试结果的计算和分析等。

总之，IEC 60444-7:2004是石英晶体元件参数测量的重要标准，其实施可以保证石英晶体元件的质量和可靠性，提高电子设备的性能和稳定性。

相关标准
- IEC 60444-1:2002——石英晶体元件参数的测量——第1部分：一般原则
- IEC 60444-2:2002——石英晶体元件参数的测量——第2部分：频率和频率稳定度的测量
- IEC 60444-3:2002——石英晶体元件参数的测量——第3部分：温度特性的测量
- IEC 60444-4:2002——石英晶体元件参数的测量——第4部分：机械特性的测量
- IEC 60444-5:2002——石英晶体元件参数的测量——第5部分：电学参数的测量