石英晶体元件是一种利用石英晶体的压电效应产生振荡的元件，广泛应用于电子设备中。石英晶体元件的性能参数包括频率、频率稳定度、频率温度特性、频率负载特性、频率震荡等，这些参数的测量对于保证设备的正常工作至关重要。其中，石英晶体元件的活性和频率陷落是影响其性能的重要因素。

石英晶体元件的活性是指在一定温度下，石英晶体元件的频率随时间的变化率。活性的大小与石英晶体元件的制造工艺、材料质量、温度等因素有关。频率陷落是指在一定温度下，石英晶体元件的频率随温度的变化率。频率陷落的大小与石英晶体元件的制造工艺、材料质量、温度等因素有关。石英晶体元件的活性和频率陷落是影响其频率稳定度和频率温度特性的重要因素。

IEC 60444-7:2004规定了测量石英晶体元件活性和频率陷落的方法和要求。该标准要求使用高精度的频率计和温度计进行测量，测量温度范围为-55℃至+125℃。在测量过程中，需要对石英晶体元件进行恒温控制，以保证测量的准确性和可重复性。测量结果应该在一定的时间范围内稳定，以保证测量的可靠性。

除了活性和频率陷落的测量，IEC 60444-7:2004还规定了石英晶体元件其他性能参数的测量方法和要求，包括频率、频率稳定度、频率温度特性、频率负载特性、频率震荡等。这些性能参数的测量对于保证石英晶体元件的质量和可靠性至关重要。

相关标准
- IEC 60444-1:2002——石英晶体元件参数的测量——第1部分：一般原则
- IEC 60444-2:2002——石英晶体元件参数的测量——第2部分：频率和频率稳定度的测量
- IEC 60444-3:2002——石英晶体元件参数的测量——第3部分：频率温度特性的测量
- IEC 60444-4:2002——石英晶体元件参数的测量——第4部分：频率负载特性的测量
- IEC 60444-5:2002——石英晶体元件参数的测量——第5部分：频率震荡的测量