IEC TR 61967-4-1:2005
Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHz - Part 4-1: Measurement of conducted emissions - 1 Ω/150 Ω direct coupling method - Application guidance to IEC 61967-4
发布时间：2005-02-07 实施时间：


IEC TR 61967-4-1:2005是IEC 61967-4的应用指南，主要针对集成电路的传导辐射测量。传导辐射是指电路中的电流和电压通过导线、电缆等传导到周围环境中，产生的电磁辐射。传导辐射会对周围的电子设备和系统产生干扰，因此需要对集成电路的传导辐射进行测量和控制。

IEC TR 61967-4-1:2005规定了1Ω/150Ω直接耦合方法的测量程序和技术要求。该方法是通过将被测集成电路的引脚与1Ω或150Ω的电阻直接耦合，将电路中的电流和电压信号转换为电压信号，然后通过测量电压信号的方法来测量传导辐射。该方法具有测量精度高、测量结果可靠等优点，被广泛应用于集成电路的传导辐射测量。

IEC TR 61967-4-1:2005还规定了测量结果的分析和解释方法。在测量过程中，需要对测量结果进行分析和解释，以确定集成电路的传导辐射水平是否符合要求。该标准提供了详细的分析和解释方法，包括测量结果的统计分析、频谱分析、峰值检测等。

IEC TR 61967-4-1:2005适用于集成电路的传导辐射测量，频率范围为150 kHz至1 GHz。该标准适用于各种类型的集成电路，包括数字电路、模拟电路、混合信号电路等。该标准还适用于各种应用环境，包括工业控制、通信、计算机等领域。

相关标准
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