静电放电（ESD）是指在两个物体之间发生的电荷转移，通常是由于摩擦、接触或分离等原因引起的。对于半导体器件来说，ESD可能会导致器件损坏或失效，因此需要对其进行敏感性测试。机器模型（MM）是一种常用的ESD测试方法，其模拟了人体和器件之间的电荷转移过程。

IEC 60749-27:2006标准规定了MM-ESD测试的具体步骤和要求。测试时，需要使用一个带有金属接地板的机器模型，将其接地并与待测试的半导体器件相连。然后，通过一个电容器将电荷传递到机器模型上，模拟ESD事件。测试时需要记录器件的电压、电流和波形等参数，并根据标准要求进行分析和评估。

该标准还规定了测试的环境条件，包括温度、湿度和大气压等。测试时需要在恒定的环境条件下进行，以保证测试结果的可靠性和可重复性。

除了MM-ESD测试外，该标准还介绍了其他ESD测试方法，如人体模型（HBM）和直接放电（CDM）测试。这些测试方法可以根据不同的应用场景和要求进行选择。

总之，IEC 60749-27:2006标准为半导体器件的ESD敏感性测试提供了详细的方法和要求，可以帮助制造商评估器件的可靠性和稳定性，提高产品质量和性能。

相关标准
- IEC 60749-26:2006 半导体器件机械和气候测试方法第26部分：人体模型（HBM）静电放电（ESD）敏感性测试
- IEC 60749-29:2006 半导体器件机械和气候测试方法第29部分：直接放电（CDM）敏感性测试
- IEC 61340-2-3:2016 静电放电控制标准第2-3部分：静电放电敏感性测试方法
- JEDEC JESD22-A114F:2018 静电放电（ESD）敏感性测试机器模型（MM）测试方法
- ISO 10605:2008 道路车辆-电磁兼容性（EMC）-静电放电测试方法